探针台

300mm探针台

Cascade 300mm探针台为手动和自动在片测试树立了标准，可提供满足各种先进、复杂测试要求所需的精度和多功能性。

CM300xi - 300 mm semi-automated shielded probe system

CM300xi-ULN

300mm半/全自动探针台，用于超低噪声测量

CM300xi - 300 mm Automated Probe Station with Loader

CM300xi

300mm半/全自动探针台

Integrated Silicon Photonics Wafer Probing Solution on 300 mm Probe Station CM300

CM300xi-SiPh

300mm半/全自动硅光测量探针台

集成测量系统

FormFactor的IMS产品提供强大的交钥匙功能，让您安心地更快地收集高质量的晶圆在片测量数据，用于当今重要且具有挑战性的测试应用。集成测量系统结合了来自FormFactor合作伙伴的仪器和其他产品，包括Keysight Technologies，以及FormFactor的探测系统、探针和为晶圆在片器件和集成电路提供关键测试数据所需的一切。

Integrated Measurement System - Keysight - mmW THz

IMS-K-mmW/THz

与Keysight VNA集成，用于测量从RF到mmW到THz的S参数集成系统

Integrated Measurement System - Keysight Silicon Photonics

IMS-K-SiPh

与Keysight光子学应用套件硬件和软件集成系统

Integrated Measurement System - Keysight - Power

IMS-K-Power

Integrated system with Keysight PDA for Power Semiconductor Device Characterization

Integrated Measurement System - Keysight - DC

IMS-K-DC

Integrated system with Keysight SPA for DC parametric measurements

Integrated Measurement System - Keysight - Low Frequency Noise

IMS-K-LFN

与Keysight A-LFNA集成，用于1/f闪烁噪声、RTN、相位噪声、器件特性和其他低频噪声测量的集成系统