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    Advanced Probe Systems

    高性能在片测试

    高性能在片测试

    我们的测试方案有助于提升工艺性能 同时降低使用成本

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    MPS150

    150mm探针台$13,880起

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    探针台

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    200mm探针台

    无论应用是器件表征，建模，工艺开发，设计调试或IC失效分析，Cascade 200mm手动和自动探针台可满足最先进的半导体工艺和大规模集成电路测量所需的精度和多功能性。

    200mm probe systems product matrix

    SUMMIT200 Semi-automatic Shielded 200mm Probe Station新

    SUMMIT200

    先进的200mm半/全自动探针台
    Summit 200 mm Manual Probe Station - shielded probe system

    SUMMIT

    先进的200mm半/全自动探针台

    集成测量系统

    FormFactor的IMS产品提供强大的交钥匙功能，让您安心地更快地收集高质量的晶圆在片测量数据，用于当今重要且具有挑战性的测试应用。集成测量系统结合了来自FormFactor合作伙伴的仪器和其他产品，包括Keysight Technologies，以及FormFactor的探测系统、探针和为晶圆在片器件和集成电路提供关键测试数据所需的一切。

    Integrated Measurement System - Keysight Silicon Photonics新

    IMS-K-SiPh

    与Keysight光子学应用套件硬件和软件集成系统
    Integrated Measurement System - Keysight - Power新

    IMS-K-Power

    Integrated system with Keysight PDA for Power Semiconductor Device Characterization
    Integrated Measurement System - Keysight - DC新

    IMS-K-DC

    Integrated system with Keysight SPA for DC parametric measurements
    Integrated Measurement System - Keysight - Low Frequency Noise新

    IMS-K-LFN

    与Keysight A-LFNA集成，用于1/f闪烁噪声、RTN、相位噪声、器件特性和其他低频噪声测量的集成系统

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