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Probe Systems

Cascade Probe Systems

我们提供全系列高性能工程探针台,用于晶圆级和板级测试,助力客户工艺提升,并降低使用成本。我们有完整的配套附件,例如显微镜、温控系统、软件和行业领先的探针。

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    Cascade Probes

    Test Probes

    我们提供了50余款分析探针产品,适用于晶圆,封装和板级特性描述。我们的RF、混合信号和DC系列探针可以满足所有探针测试需求。

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      Probe Cards

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        Metrology

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门生产强大的表面计量工具,例如开发生产和质量控制。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        学到更多 @ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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            Probe Card Manufacturing Company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和具有丰富经验的工程师来帮助他们完成测试与测量挑战。

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                  与客户合作
                  加快盈利

                  在FormFactor,我们与技术领导者合作,优化产品性能,提升良品率,并提高产品的产量。 我们的合作从应用开发和预生产阶段,到设计与批量制造。 利用我们的专业知识,解决方案和基础设施等优势,我们的客户能更有力的控制和降低经济风险从而推动持续创新。 通过与FormFactor合作从而保护并提高产品的性能和产量,加速产品面市时间及企业的盈利能力。

                  概述工程/ R&D生产测试

                  从设计到生产的每个重要时刻,我们一路支持客户

                  我们从设计到测试的合作式方案推动了先进集成电路的发展,尤其在当今的汽车和移动市场, 产品上市时间被压缩的情况下。运用我们先进的技术和专业知识,不仅帮助客户制造他们的现有产品,同时帮助他们创新并打造未来产品。 用我们数十年的行业知识和经验,在复杂的设计生产到第一片成品的测试前,解决技术和成本方面的挑战。

                   

                  Customer Collaboration Infographic


                  “我们很荣幸,在产品开发和整个生产过程中,作为合作伙伴,客户信赖我们,这在VLSIresearch客户满意度调查一贯的高排名是最好的见证。 FormFactor专注于提供创新的,高质量及快速的解决方案,以满足客户的技术挑战,同时降低总体测试成本… FormFactor致力于提供领先的电子测试与测量专业知识,解决方案和基础设施,以帮助我们的客户以及最终用户加快盈利。”

                  FormFactor首席执行官Mike Slessor

                  工程/R&D

                  在R&D阶段,我们与客户合作,在工程测试环境下进行晶圆形态的芯片测试或晶圆探测。我们的工程探针台和分析探针在日益复杂的高速芯片产业,被应用于精密电子测量或电计量的研究与发展,以确保质量和可靠性,减少代价高昂的重新设计,加快产品上市和提高芯片制造工艺。 在IC被切割和封装之前,通过使用我们的晶圆探测解决方案,设计工程师可以测试和晶圆级表征电路。 这减少了一半的研发时间,并大大降低了开发新型芯片的巨大成本。

                  May, 2017

                  与IMEC合作取得3D堆叠芯片测试突破性进展

                  开发出全自动的测试单元以实现大尺寸、微间距、微凸块的3D堆叠芯片的精确测量

                  观看完整版
                  June, 2017

                  在≤30um焊盘上的最小探针划痕

                  精确的Kelvin CMOS测试结构,实现产品建模应用时精确和可重复的DC晶圆级测量。

                  现在下载
                  April, 2015

                  快转EM应力关联到封装水平压力

                  我们与Intel和Celadon的合作体现了时间到数据相关的标准封装水平EM测试的优势。

                  现在下载

                  生产测试

                  每个探针卡项目都是为IC独一无二设计的。 因此,设计和制造的各个方面都需要紧密和谐的管理。 这是我们与客户在早期设计阶段建立合作关系的原因,我们共同评估新的IC的先进封装和晶圆测试的可行性。 旨在测试过程中尽早地帮助客户提取和验证关键数据,以提高产量管理,并大大缩短批量生产和收入的时间,改进量产和收入。

                  2019年,在VLSlresearch的年度客户满意度调查中,Formfactor被评为三个类别的最佳供应商;

                  • 芯片制造设备的十佳聚焦供应商,
                  • 测试设备最佳供应商
                  • 子系统最佳供应商。

                  排名根据全球用户的全方位反馈,包括集成设备制造商(IDM),无晶圆厂半导体公司,以及外包组装和测试(OSAT)

                  生产商

                  。

                  “供应商们以一贯的高客户满意度主宰市场,” VLSIresearch首席执行官G. Dan Hutcheson说, “FormFactor的高排名反映了公司与客户的紧密合作伙伴关系。 技术领先,合作和信任是持续高排名的关键。 这些要素以及良好的售后支持和质量帮助FormFactor年复一年在业内脱颖而出“。

                  VLSI Award - THE BEST Supplier
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