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Probe Systems

Cascade Probe Systems

我们提供全系列高性能工程探针台,用于晶圆级和板级测试,助力客户工艺提升,并降低使用成本。我们有完整的配套附件,例如显微镜、温控系统、软件和行业领先的探针。

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    Cascade Probes

    Test Probes

    我们提供了50余款分析探针产品,适用于晶圆,封装和板级特性描述。我们的RF、混合信号和DC系列探针可以满足所有探针测试需求。

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      Probe Cards

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        Metrology

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门生产强大的表面计量工具,例如开发生产和质量控制。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        学到更多 @ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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            Probe Card Manufacturing Company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和具有丰富经验的工程师来帮助他们完成测试与测量挑战。

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                  新闻材料:硅光子学

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                  介绍

                  半导体行业正处于硅光子学(SiPh)技术转变的门户,它在速度,功率效率和密度方面具有惊人的增长潜力。 SiPh革命的第一波浪潮准备在全球数据中心滚动,光纤互连突破了铜线设置的障碍。最终用户的好处可能包括高清电影或一秒钟下载的100小时音乐。每秒太比特的带宽现在已达到实用范围。

                  FormFactor已经在硅光子技术的实施中发挥了重要作用。这个主要的拐点很好地说明了我们如何在新技术投入批量生产之前很早就参与解决晶圆测试的挑战。

                  Icon 将硅光子技术从实验室转移到晶圆厂

                  Edge Coupling Probe Solutions

                  照片库

                  照片库

                  Edge Coupling Probe Solutions

                  Integrated Silicon Photonics Wafer Probing Solution on 300 mm Probe Station CM300

                  Integrated Silicon Photonics Wafer Probing Solution on 300 mm Probe Station CM300

                  Silicon Photonics (SiPh) - Close-up | FormFactor, Inc.

                  视频

                  视频

                  自动光子探测- 先进的光学对准算法与高速,高精度压电控制相结合,以优化输入和输出光学探头的放置,因为测试序列从一组波导前进到下一个波导并进入下一个设备

                  下载MP视频文件

                  播客

                  播客

                  播客:转向Silicon Photonics的背后是什么?
                  随着带宽需求的增加和链路距离的减小,Datacom是需要在标准CMOS硅工艺中制造光子学的驱动因素之一。这个播客探讨了这种转变。

                  FormFactor Probe Systems市场开发总监Dan Rishavy,2018年1月

                  http://www.formfactor.cn/wp-content/uploads/Silicon-Photonics-Podcast-Dan-Rishavy-13018-3.23-PM.mp3

                  相关产品

                  相关产品

                  CM300xi-SiPh

                  Integrated Silicon Photonics Wafer Probing Solution on 300 mm Probe Station CM300

                  具有集成硅光芯片和晶圆级测试的300mm探针台 CM300xi-SiPh 300mm探针台是市场上第一个经过验证的硅光测量方案,安装后即可进行经过工程和生产验证的优化光学测量。独特的自动SiPh测量助手提供了全新的功能,可以将光学定位硬件与探针台精确合并,并验证系统的集成性能。 该系统OptoVue,智能视觉算法以及与黑暗、屏蔽、无霜环境的专用SiPh TopHat相结合,可以实现在多个温度下真正的自动校准和重新校准,这样可以加快进行更准确的测量,降低测试成本。 FormFactor独家开发的SiPh-Tools和光子控制器接口(PCI)提供了用于对齐,数据收集和分析的强大软件工具。这包括在表面和边缘耦合应用中同时使用光纤和光纤阵列的所有必要算法。 FormFactor提供了所需的所有工具,固定装置和功能,使您能够在几天(而不是几个月或几年)内对光子器件进行测量。 应用:硅光子学

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                  CM300xi

                  CM300xi - 300 mm Automated Probe Station with Loader

                  在实验室里以高度自动化实现了同类最佳的测量性能* CM300xi探针台可以应对极其复杂环境带来的测量挑战,例如随着时间的推移和在多个温度下对小Pad进行无人值守测试。在EMI屏蔽,不透光和无湿气的测试环境中,可实现一流的测量性能,适用于各种应用。热管理增强功能和实验室自动化功能可提高产量并缩短数据处理时间。 CM300xi支持Contact Intelligence™ – 一种独特的技术,可实现自动半导体测试。创新系统设计与最先进的图像处理功能的强大组合提供了独立于操作员的解决方案,可在任何时间和温度下实现高度可靠的数据测量。 通过材料处理单元,CM300xi探针台结合了全自动晶圆测试,具有最高的精度和灵活性。该系统可以处理SEMI标准晶圆盒中提供的多达50片200mm或300mm晶圆。   * CM300xi探针台还有其他型号以满足不同的应用需求,请参考CM300xi探针台产品手册了解详细信息和选项。

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                  媒体联系

                  David Viera - +1-925-290-4182 - David.Viera@formfactor.com

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