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工程测试探针有助于超级计算和量子计算设备的发展
加利福尼亚州利弗莫尔，2020年9月16日（GLOBE NEWSWIRE）-领先的半导体测试和测量供应商FormFactor, Inc.（NASDAQ股票代码：FORM）近日宣布，其已制造出一系列针对低温测量进行优化的工程探针。这些探针可用于测试在温度低至4K时器件的工作性能，例如开发那些用于超级计算机和量子计算应用的器件。
运用量子计算解决远超当前超级计算机现有能力的复杂问题的前景，数据中心功耗的指数级增长，以及对用于安全、军事和医疗保健的高性能图像传感器的需求，这些都推动了革命性新技术的发展。与传统的CMOS相比，速度、功率效率和灵敏度大大提高，但这些进步需要高度专业化的测试和测量工具（在略高于绝对零度的温度下运行）。
FormFactor的低温系列探针支持DC（DCP系列探针）、高频RF（|Z|、Multi-|Z|和T-Wave探针）和光学应用（LWP系列）的晶圆测试。
“要在极低的温度下进行测量，挑战是非常大的，”FormFactor探针业务部高级副总裁兼总经理Matt Losey说，“FormFactor的低温探针采用抗低温的材料和结构，能够为测试新兴计算IC所需的高数率提供卓越性能。”
欲了解更多关于FormFactor低温探针系列的信息或支持特殊要求的定制版本，请访问www.formfactor.com或联系当地销售代表。
关于FormFactor：
FormFactor, Inc.（NASDAQ股票代码：FORM）是IC整个生命周期中关键测试和测量技术的领先供应商-从计量和检测、特性表征、建模、可靠性和设计缺陷排除到鉴定和生产测试。半导体公司依靠FormFactor的产品和服务，通过优化设备性能和提高良率来提高盈利能力。该公司通过其在亚洲、欧洲和北美的服务网络为客户提供服务。欲了解更多信息，请访问公司网站www.formfactor.com。
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