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超低噪音探测系统为开发下一代集成电路的工程师提供了先进的测量能力

加利福尼亚州利弗莫尔，2020年9月2日（全球新闻专线）-领先的半导体测试与测量供应商FormFactor, Inc.（纳斯达克股票代码：FORM）今天推出了一种300mm晶圆测量系统CM300xi-ULN，该系统设计用于闪烁噪声（1/f）、随机电报噪声（RTN）和相位噪声的高精度测试。此类噪声现象对先进模拟和数字IC技术造成的困扰日益增加，而该技术功率和性能的提高需要以降低噪声容许量为代价。因此，目前的器件设计和验证需要使用高灵敏度设备仔细表征此类内部噪声源。上述探针系统CM300xi-ULN通过消除97%以上的环境噪声为超低噪声测量建立了新的行业标准。

FormFactor副总裁兼系统业务部门总经理Claus Dietrich称：“带有智能接触技术的新型CM300xi-ULN从根本上改变了7纳米以下前沿技术节点的实验室闪烁噪声测量。目前可以针对半自动或全自动探测部署高吞吐量低频闪烁噪声测试，并采用多DUT布局完全实现全天候自动运行。由于CM300xi-ULN降低了低噪声测试单元优化的复杂性，测试工程师只需通电即可开始测试。”

低噪声测量方面行业第一

FormFactor继续引领新的精密电性测量技术，CM300xi-ULN正是此类领先的体现。这一革命性系统在晶圆级噪声测试领域实现了四项重要的行业“第一”，包括：

• 第一款实现-190分贝频谱噪声*的自动化探针台，可对新的高性能器件进行高精度噪声测量（*典型值，dBVrms/√Hz，1kHz至1MHz，含探针台和温控系统）
• 集成测试单元电源管理，可消除接地回路感应噪声，并为探针台和仪器提供全面管理和过滤的交流电源
• 在30um焊盘上完全自主进行闪烁噪声热测试，测试速度比上一代系统快4倍
• 客户现场调查和“低噪声”安装验证，可显著降低安装成本和工具部署时间

欲了解更多关于CM300xi-ULN的信息，请访问 http://www.formfactor.com/contact-sales.

关于FormFactor
FormFactor, Inc.（纳斯达克：FORM）是IC整个生命周期中关键测试和测量技术的领先提供商-从计量和检测、特性、模型、可靠性和设计缺陷到鉴定和生产测试。半导体公司依靠FormFactor的产品和服务，通过优化设备性能和提高产量知识来提高盈利能力。该公司通过其在亚洲、欧洲和北美的设施网络为客户提供服务。欲了解更多信息，请访问公司网站 http://www.formfactor.com.

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