Cantilever 概述
为了满足消费者对于低价、低功耗和高连接性的便携式计算产品的需求,半导体行业加快了工艺和封装技术的发展。
虽然尖端半导体技术为低成本和低功耗应用提供了重要优势,但是它们也向晶圆测试提出了重大的挑战。例如,晶圆测试面临着严格的电气性能要求,而且焊盘间距、密度和探针压力持续调整,这些组合起来以降低成本和缩短周转时间,从而满足消费终端的市场需求。
FormFactor 拥有业界最广泛的非存储器型晶圆测试探针卡产品系列,其产品提供了高并行性(用于实现更大的吞吐量)、稳定的接触电阻(以获得最优的测试良率)和优越的接触精度。通过在其技术方面的持续投资,公司实现快速发展,以满足客户对于提升性能和缩减几何尺寸的未来技术发展计划要求。FormFactor 提供了一系列高级 MEMS、垂直和悬臂式探针卡。
Applications:Cantilever 主要特征
- 支持 40 um 间距、20/40 um 交错型设计
- 均匀的磨砂性能以改善引线键合可靠性
- 均匀的擦洗性能,提高了焊线可靠性