Vx-MP 概述
为了满足消费者对于低价、低功耗和高连接性的便携式计算产品的需求,半导体行业加快了工艺和封装技术的发展。
虽然尖端半导体技术为低成本和低功耗应用提供了重要优势,但是它们也向晶圆测试提出了重大的挑战。例如,晶圆测试面临着严格的电气性能要求,而且焊盘间距、密度和探针压力持续调整,这些组合起来以降低成本和缩短周转时间,从而满足消费终端的市场需求。
FormFactor 拥有业界最广泛的非存储器型晶圆测试探针卡产品系列,其产品提供了高并行性(用于实现更大的吞吐量)、稳定的接触电阻(以获得最优的测试良率)和优越的接触精度。通过在其技术方面的持续投资,公司实现快速发展,以满足客户对于提升性能和缩减几何尺寸的未来技术发展计划要求。FormFactor 提供了一系列高级 MEMS、垂直和悬臂式探针卡。
Vx-MP 探针卡支持高密度倒装式芯片测试,是尖端微处理器和 SoC 的首选产品。它的设计目标是:提供高信号保真度和电流承载能力,延长产品寿命和减少针卡维护工作量。
Applications:Vx-MP 主要特征
- 2D 垂直 MEMS 探针技术,可扩展至 90 µm 及以下
- 在铜焊凸上具有超稳定的 Cres
- 专有的 CoolProbe™ 技术可支持极端电流要求
- 探头力小,减少撞击损坏
- 铜柱焊凸探查,90 µm 的最小网格阵列间距
- 采用复合型 MEMS 探针结构,以实现高 CCC >=1A/探针