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Cascade Probe Systems

Cascade Probe Systems

我们提供全系列高性能工程探针台,用于晶圆级和板级测试,助力客户工艺提升,并降低使用成本。我们有完整的配套附件,例如显微镜、温控系统、软件和行业领先的探针。

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    Cascade Probes

    Test Probes

    我们提供了50余款分析探针产品,适用于晶圆,封装和板级特性描述。我们的RF、混合信号和DC系列探针可以满足所有探针测试需求。

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      Probe Cards

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        Metrology

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门生产强大的表面计量工具,例如开发生产和质量控制。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        学到更多 @ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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            Probe Card Manufacturing Company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和具有丰富经验的工程师来帮助他们完成测试与测量挑战。

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                  Autonomous DC Measurement Assistant on CM300xi-ULN probe station enables up to 4x faster flicker noise thermal testing on 30 μm pads
                  HTS test on probe card with pad size 30 μm x 30 μm with 2 hour system soak and 10 minute die soak. All pads in all positions were contacted successfully before and after temperature change.
                  Products Probe Systems 自动化助手 自动化DC测量

                  Cascade

                  自动化DC测量

                  具有智能接触功能的自动DC测量

                  Autonomous DC Measurement Assistant on CM300xi-ULN probe station enables up to 4x faster flicker noise thermal testing on 30 μm pads
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                  概述主要特征下载

                  自动化DC测量 概述

                  凭借 FormFactor 的Contact Intelligence技术,操作员可以在整个班次中(整夜甚至整个周末)开始测试并让系统保持测量状态,而无需任何用户干预。探针经过动态校正,以补偿温度变化时探针或设备的任何热膨胀,可实时准确地扎到pad上。Contact Intelligence模块通过电动针座优化在小pad上扎针,自动变温测量,和自动调整探针在Sub-Die中的位置,实现7X24小时不间断作业。Test Executive软件可以轻松调用单个DUT探针布局和多个DUT布局,以实现完全自动化。接触智能系统负责所有复杂的热过渡自主管理,以及探针到Pad对准(PTPA)的热稳定时间优化。这样就可以在更短的时间内测试更多的器件,并且在DC测量中具有更高的一致性,从而获得更准确的数据和更快的上市时间。

                  当与新的噪声测试设备(闪烁噪声,RTN,相位噪声)集成时CM300xi-ULN该系统为超低噪声探测提供了业界最高的测试吞吐量,并在低至30µm的小pad上具有低接触电阻。所有功能都进行了优化,以确保不降低超低噪声性能。

                  Applications:

                  自动化DC测量 主要特征

                  autonomous-dc-measurements

                  Contact Intelligence

                  • 简单易用 -不太有经验的操作人员也能通过简单地揿下一个按钮完成 DC 测量。这降低了让有经验的用户在每个系统上都花费全部时间的需要。
                  • 缩短了稳定时间–如果探针偏离了与pad对准的状态,则系统将自动把它们重新对准,这样可减少测试时间并增加吞吐量。
                  • 无人值守式的使用 -可在夜间或周末将测量作业置于运行状态,在不同的温度下测试晶圆上的所有器件,并不需要操作人员的干预。

                  下载

                  Icon 应用于自动化DC测量的Contact Intelligence技术
                  Icon 探针座宣传册
                  Icon Cascade探针台系统宣传册
                  Icon 探针台配件目录
                  Icon 全球服务宣传册(Cascade探针台系统)
                  Icon SourceOne工厂翻新设备手册

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                  SUMMIT200 系列探针系统支持 Contact Intelligence,这是一种创新技术,能够检测环境变化并作出反应,以优化探针接触准确度,从而实现自动化半导体测试。了解更多关于SUMMIT200探针系统
                  采用 Contact Intelligence 技术的 CM300xi 系列探针系统可应对由极其复杂的环境带来的测量难题,比如在多种温度条件下随着时间的推移在小pad上进行无人值守的测试。了解更多关于CM300xi探针系统

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