IMS-K-Power

IMS-K-Power 概述

与Keysight PDA集成的全面交钥匙测量系统（IMS）用于晶圆级研发功率半导体器件表征测量

FormFactor和Keysight应用专家将一起帮助您配置一个强大、完整的解决方案，包括：

• FormFactor探测系统： T300, TESLA200, T200, EPS150TESLA (其他可选)
• 手动、半自动和全自动探针台选项
• FormFactor工程探针：高压探针、大电流探针、高功率探针
• I.P.S.“LuPo”高电压/高功率探卡（可选）
• 从-60℃到+300℃的全温度范围自动变温测量
• Keysight功率器件分析仪（PDA）：B1505A（其他可选）
• Keysight自动化及建模软件：EasyEXPERT group+
• 完成系统需增加：电缆、适配器、安装硬件等。

业界最高效、最精确的功率半导体器件表征系统

当在晶圆上而不是在封装后测试Si和先进GaN/SiC器件时，R&D工程师和测试人员面临着收集高精度数据的主要挑战。这包括在高电压下探针和系统防电弧的需要，高电流下探针和晶圆触点低电阻的需要，以及薄晶圆的特殊处理。同时，对“快速获得准确数据”的需求要求快速简便地设置复杂的高功率测试配置，同时要考虑操作员和器件的安全。来自行业领导者Keysight的紧密集成仪器使系统更加完善，以提供最佳的测量精度和可重复性。

实现高质量测量最快捷、最安全、最经济的途径

预验证、交钥匙、全面的、集成的FormFactor测量系统，可为重要的测试应用提供安心和即时、开箱即用的生产力。

可免费提供这些益处。FormFactor的IMS解决方案没有对Keysight产品或集成费用的加价。

世界上唯一功率半导体器件表征系统，其建立于研发仪器仪表行业的第一领导者和分析探测系统的第一领导者基础之上——the FormFactor IMS-K-Power.

应用：功率半导体器件表征