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Cascade Probe Systems

Cascade Probe Systems

我们提供全系列高性能工程探针台,用于晶圆级和板级测试,助力客户工艺提升,并降低使用成本。我们有完整的配套附件,例如显微镜、温控系统、软件和行业领先的探针。

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    Cascade Probes

    Test Probes

    我们提供了50余款分析探针产品,适用于晶圆,封装和板级特性描述。我们的RF、混合信号和DC系列探针可以满足所有探针测试需求。

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      Probe Cards

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        Metrology

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门生产强大的表面计量工具,例如开发生产和质量控制。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        学到更多 @ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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            Probe Card Manufacturing Company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和具有丰富经验的工程师来帮助他们完成测试与测量挑战。

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                  Products Probes ACP ACP探针 – 同轴

                  Cascade

                  ACP探针 – 同轴

                  稳定耐用的在片测试射频(RF)和微波探针

                  概述主要特征下载

                  ACP探针 - 同轴 概述

                  The Air Coplanar Probe (ACP) is a rugged microwave probe with a compliant tip for accurate, repeatable measurements for both on-wafer as well signal integrity applications. It features excellent probe-tip visibility and the lowest loss available. The ACP Probe delivers outstanding compliance for probing non-planar surfaces. These probes offer stable and repeatable over-temperature measurements, with a typical probe life of 500,000 contacts on gold pads. Configurations for both single and dual signal applications are available. The ACP probe combines outstanding electrical performance with precise probe mechanics, and is today’s most widely used microwave probe. Fast delivery is available on 100, 125, 150, 200, and 250 µm pitched probes

                  Applications:

                  ACP探针 - 同轴 主要特征

                  • 独特的空气共面探针设计,针尖材料可选择铍铜 (BeCu) 或钨
                  • DC 至 110 GHz ,可提供单通道和双通道版本
                  • 低插损和回损及超低损耗 (-L) 版本
                  • 优异的抗干扰特性
                  • 宽工作温度范围 -65 ° C 至 + 200 ° C
                  • 可提供多种间距,从 50 µm 到 1250 µm
                  • 个别支持的触点
                  • 特制的微小针尖可用于微小pad测试
                  • BeCu 针尖在金pad上提供了稳固、可重复的接触

                  下载

                  Icon ACP探针快速指南
                  Icon 探针选择指南
                  Icon 高达110GHz的针尖功率校准的5G应用用于改善晶圆级S-参数量测精度和稳定性

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