DCP-HTR系列探针 概述
DCP-HTR 探针在 -65 º C 到 300 º C 的温度范围下提供了先进的特性分析和可靠性测试 fA 级别的测量能力,其独特的设计在整个温度范围内提供了优异的防护和屏蔽,从而克服了标准同轴针的高温性能局限。当在带有微室环境的探针台上使用时,DCP-HTR 可充分地利用半导体参数测试仪器。具有小直径的可选探针针尖,非常适合探查面积小到 30 μm x 30 μm 的pad。
Applications:DCP-HTR系列探针 主要特征
- 超低、fA 级别电流和 fF 级别电容测量(-65 °C 至 + 300 °C)
- 保证到fA 和 fF 级别测量提供全面防护
- 为类似开尔文 (Kelvin) 和 CV 测量提供了单独的Force和Sense连接器??
- 适用于不同材料和尺寸的pad
- 无需借助工具,可快速更换磨损的探针