高电流探针

高电流探针 概述

HCP 探针专为在晶圆上测试功率器件而特别设计，它通过最大限度地减小晶圆至探针界面上的接触电阻（以避免在针尖上出现器件发热）减少了探针和器件的毁坏。创新的多指设计通过针尖上的多个触点来分配电流，并纳入了单个散热器，用于使热量离开探针针尖。