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Cascade Probe Systems

Cascade Probe Systems

我们提供全系列高性能工程探针台,用于晶圆级和板级测试,助力客户工艺提升,并降低使用成本。我们有完整的配套附件,例如显微镜、温控系统、软件和行业领先的探针。

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    Cascade Probes

    Test Probes

    我们提供了50余款分析探针产品,适用于晶圆,封装和板级特性描述。我们的RF、混合信号和DC系列探针可以满足所有探针测试需求。

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      Probe Cards

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        Metrology

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门生产强大的表面计量工具,例如开发生产和质量控制。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        学到更多 @ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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            Probe Card Manufacturing Company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和具有丰富经验的工程师来帮助他们完成测试与测量挑战。

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                  Infinity Probe
                  Infinity Probes with RF TopHat and Keysight Frequency Extenders on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                  Autonomous RF Measurement Assistant with Infinity Probes and Keysight Frequency Extenders on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                  Infinity Probes and Focus Microwaves DELTA Tuners for Load-Pull Modeling and Characterization on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                  200 mm RF Probe Station SUMMIT200 with Infinity Probes and Focus Microwaves DELTA Tuners for Load-Pull Modeling and Characterization
                  Products Probes Infinity Infinity探针 – 同轴

                  Cascade

                  Infinity探针 – 同轴

                  高频性能和低且稳定的接触电阻(在铝焊盘上)

                  Infinity Probe
                  Infinity Probes with RF TopHat and Keysight Frequency Extenders on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                  Autonomous RF Measurement Assistant with Infinity Probes and Keysight Frequency Extenders on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                  Infinity Probes and Focus Microwaves DELTA Tuners for Load-Pull Modeling and Characterization on 200 mm Probe Station SUMMIT200
                  200 mm RF Probe Station SUMMIT200 with Infinity Probes and Focus Microwaves DELTA Tuners for Load-Pull Modeling and Characterization
                  概述主要特征视频下载

                  Infinity探针 - 同轴 概述

                  Infinity 探针非常适合器件特性分析和建模,其兼具极低的接触电阻(在铝pad上)和RF 测量精确度,可实现高度可靠的可重复测量。专有的薄膜和同轴探针技术减少了与相邻器件的不必要耦合和传输模式。

                  Applications:

                  Infinity探针 - 同轴 主要特征

                  • 光刻薄膜结构
                  • 卓越的抗干扰特性
                  • 抗氧化镍合金探针针尖
                  • 创新的力传递机理
                  • 可提供 40GHz、50GHz、67GHz、110GHz 和 145GHz 连接器
                  • GSG、SG、GS、GSGSG、GSSG、SGS 配置
                  • 50 µm 至 250 µm 间距(可根据客户要求提供其他间距)
                  • 可提供高电流版本 (2 A)

                  优点

                  • 卓越的磁场限制可减少与附近设备和传输模式的不必要耦合
                  • 卓越的测量精度和可重复性
                  • 短划痕对铝pad产生最小的损伤
                  • Al上的典型接触电阻<0.05Ω,Au上的接触电阻<0.02Ω
                  • 通过将焊盘几何pad缩小到25 x35μm(最佳情况),从而节省宝贵的晶圆空间并减少pad的寄生效应

                  视频

                  Play Video

                  自动射频测试助手

                  FormFactor的自动射频测试助手是市场上唯一能够在多个温度条件下实现射频器件自动测量和校准的解决方案。

                  [geoip_detect2_show_if country="CN"]

                  [/geoip_detect2_show_if]

                  Play Video

                  自动射频校准和超高温高频晶圆探测

                  FormFactor公司RF市场部门主管Anthony Lord演示了在高达330GHz多种温度条件下的自动校准监测和重新校准。


                  Play Video

                  130 GHz的宽带S参数测量安东尼·洛德

                  FormFactor射频市场总监Anthony Lord回顾了在宽频带(尤其是毫米波mmw)上进行极高频率测量的挑战。讨论了高精度和可靠性的在产品建模和电路表征特性方面的需求,以及在温度范围(-40至最高+175℃)下进行这些测量的挑战。


                  Play Video

                  负载牵引建模和5G器件、晶体管电路表征

                  FormFactor与Focus Microwaves及Keysight合作,为高达110ghz的高频基频和谐波负载牵引测试提供最先进的整体解决方案。Focus Microwaves的Delta调谐器专为晶片集成而设计,这使得它们在物理上尽可能地靠近晶片,从而使插入损耗最小化,伽马值最大化,实现史密斯图上可调阻抗的最大覆盖。该解决方案兼容FormFactor的高分辨率eVue显微镜与专利申请中的Crash Detection技术,以保护您的宝贵设备

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                  Icon 探针选择指南
                  Icon Infinity 探针结构
                  Icon 为高级射频设备实现一致的参数提取
                  Icon 集成Cascade探针台的先进毫米波和太赫兹测量
                  Icon 先进毫米波负载牵引测试
                  Icon 自动射频测量助手宣传册
                  Icon 高达110GHz的针尖功率校准的5G应用用于改善晶圆级S-参数量测精度和稳定性

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