Cascade
ACP-Q Probe
多种配置可用于功能电路测试
ACP-Q Probe 概述
Quadrant 探针是应单个模块中的多探针针尖需求而开发的。其配置包括所有的 RF 或 RF 与 DC 的组合。RF 探针是运用气动共面技术制成了一种稳固的微波探针，这种微波探针具有一个符合标准的针尖，旨在实现准确、可重复的在片测试。DC 探针采用陶瓷片式针，以实现低噪声和高性能。ACP Quadrant 探针是可定制的，以满足您的特定需求。
40/80 Gb/s 高性能 RF Quadrant 探针
这种探针的设计目标是提供宽带宽 RF 连接和同步无谐振电源旁路连接，旨在满足光网络用高速混合模式 IC 的特殊需要。
- 在非常宽的带宽内实现了低 RF 损耗和卓越的阻抗控制
- 为低阻抗电源提供了高性能无谐振旁路
- 可提供高性能数字电路的在片评估
- 高速数字信号的极小失真
- 在晶圆测试中表现出最大化的眼图测试性能
- 耐用的空气共面针尖技术，接触测试寿命更长
ACP-Q Probe 主要特征
- 在单个探针模块中提供了 DC 和 RF 的组合：一个双探针或多达 3 个 RF 探针；最多 9 个 DC 标准探针（其他数量看具体需求）。
- 运用了 ACP 针尖设计、GSG、GS 或 SG
- 在 DC 至 100 GHz 频率范围内可使用 RF 针尖
- 可选择铍铜针尖或钨针尖
- DC 电源针标配 100 pF 微波电容
- 电源旁路电感：8 nH
- 最大 DC 电压：无电源旁路时为 50 V（采用标准电源旁路时为 25 V，元器件根据定制电源旁路选择）
- 尤适合对整个电路进行功能测试
- 双 ACP 配置可支持差分信号传输应用
- DC 探针能够向被测试电路提供电源或慢逻辑信号
