|Z| Probe® PCB 概述
灵活性对于实现高效 PCB 和陶瓷测试是很关键的。|Z| Probe® PCB 的对准和处理很简单,而且可以容易地定位。它以最佳的方式替代了常常缺乏灵活性的昂贵测试夹具。稳健的设计可使 |Z| 探针 PCB 易于处理,并提供了长工作寿命(通常超过 100 万次接触测试)。
|Z| 探针 PCB 的平面针尖具有精确计算的并联、单独的接触弹簧,这些弹簧彼此独立地移动,因而可与 DUT 实现精确、快速和简单的接触,即使存在显著的接触高度差也不例外。|Z| 探针 PCB 的这种独特特性以及非常稳健的整体设计确保了长寿命和简单的处理。
当与包括探针定位器和校准片的手动探针系统一起使用时,|Z| 探针 PCB 就成为了适合所有 RF 电路探查需求的最佳工具。
Applications:|Z| Probe® PCB 主要特征
- 用简单易用的探针针尖取代了昂贵且缺乏灵活性的测试夹具
- 长寿命 —— 通常超过 100 万次接触测试
- GS/SG 的工作频率高达 4 GHz,GSG 的工作频率则高达20 GHz
- 高功率 RF 测试:高达 30 W
- 可在 -60°C 至 200°C 的温度范围内进行测试