探针台

300mm探针台

Cascade 300mm探针台为手动和自动在片测试树立了标准，可提供满足各种先进、复杂测试要求所需的精度和多功能性。

CM300xi - 300 mm semi-automated shielded probe system

CM300xi-ULN

300mm半/全自动探针台，用于超低噪声测量

CM300xi - 300 mm Automated Probe Station with Loader

CM300xi

300mm半/全自动探针台

Integrated Silicon Photonics Wafer Probing Solution on 300 mm Probe Station CM300

CM300xi-SiPh

300mm半/全自动硅光测量探针台

PM300 Probe Station

PM300

300mm手动探针台

集成测量系统

FormFactor的IMS产品提供强大的交钥匙功能，让您安心地更快地收集高质量的晶圆在片测量数据，用于当今重要且具有挑战性的测试应用。集成测量系统结合了来自FormFactor合作伙伴的仪器和其他产品，包括Keysight Technologies，以及FormFactor的探测系统、探针和为晶圆在片器件和集成电路提供关键测试数据所需的一切。

Integrated Measurement System - Keysight - mmW THz

IMS-K-mmW/THz

与Keysight VNA集成，用于测量从RF到mmW到THz的S参数集成系统

Integrated Measurement System - Keysight Silicon Photonics

IMS-K-SiPh

与Keysight光子学应用套件硬件和软件集成系统

Integrated Measurement System - Keysight - Power

IMS-K-Power

Integrated system with Keysight PDA for Power Semiconductor Device Characterization

Integrated Measurement System - Keysight - DC

IMS-K-DC

Integrated system with Keysight SPA for DC parametric measurements

Integrated Measurement System - Keysight - Low Frequency Noise

IMS-K-LFN

与Keysight A-LFNA集成，用于1/f闪烁噪声、RTN、相位噪声、器件特性和其他低频噪声测量的集成系统

大功率探针台

功率半导体器件的广泛使用产生了对功率器件快速高效地进行特性分析的紧迫需求。Cascade 提供了晶圆上功率器件特性分析系统，旨在缩短新型功率器件的上市时间并跟上生产进度的要求。

TESLA300 - semi-automated

T300 – 半自动

300mm半自动功率器件测量探针台

定制探针台系统

针对各种挑战性的应用定制的解决方案

Probe systems - custom magnetic

定制探针台

面向诸多具挑战性应用的定制解决方案