集成测量系统
FormFactor的IMS产品提供强大的交钥匙功能,让您安心地更快地收集高质量的晶圆在片测量数据,用于当今重要且具有挑战性的测试应用。集成测量系统结合了来自FormFactor合作伙伴的仪器和其他产品,包括Keysight Technologies,以及FormFactor的探测系统、探针和为晶圆在片器件和集成电路提供关键测试数据所需的一切。
大功率探针台
功率半导体器件的广泛使用产生了对功率器件快速高效地进行特性分析的紧迫需求。Cascade 提供了晶圆上功率器件特性分析系统,旨在缩短新型功率器件的上市时间并跟上生产进度的要求。