准确，可重复的IV / CV测量 - 当精确模型和数据变得关键时
最佳决策取决于最佳数据
对于几乎所有的器件类型和半导体技术， DC参数测量贯穿于半导体产品开发和生产的每个阶段。它在高级材料研究，工艺特性，器件特性和建模，设计调试，工艺监控和生产晶圆测试发挥着关键作用。
精确且可重复的直流参数测量（IV，CV，脉冲和高功率）可降低不确定性。可靠的结果可加速产品认证并生成更精确的模型和设计工具包，从而使设计师能够更快地向市场提供更具竞争力的产品。
我们以此为目标重新定义了分析测试系统 - 为在片测试提供全新的电气环境。通过消除可能破坏测试结果的环境因素，探针台对于测量仪器确实变得“隐形”。自从1991年第一台MicroChamber®探针台问世以来，FormFactor的Cascade探针台系统产品始终具有相同的使命 – 获得最佳数据以做出最佳决策，使客户获得成功。
测试完整性面临各方面的威胁
大量因素可能会破坏直流电性测试。由于外部环境的影响，电噪声可能出现在数据中 - 例如，来自蜂窝网络，无线电/电视塔和附近电子设备的电磁干扰和射频干扰，以及温度和振动等物理因素。
测试系统内部的因素也会影响结果 - 例如，设计不良的信号路径产生的漏电流，电阻或热电压偏移，材料能量存储以及来自于基本的探针台系统组件的电噪声，如电源，平台电机，温控系统和电脑。
如果管理不当，这些因素会导致数据偏移和整个样本集的统计分布增加，从而严重降低电性能。糟糕的数据是昂贵的 - 重新测试的时间，额外的建模周期，延迟的产品发布以及性能不佳的产品。
| 测量完整性创新和专利 | |
|---|---|
| 1990s | MicroChamber®and TopHat AttoGuard®and PureLine™ Technology Low-noise FemtoGuard™ Thermal Chuck Low-noise triax cables |
| 2000s | Tesla 10kV FemtoGuard HV/HC Kelvin Chuck System MicroVac™ Wafer Contact Thermal noise filtering |
| 2010s | Contact Intelligence™ Technology High Position Accuracy High Thermal Stability Low-noise eVue IV digital microscope Low-noise Thermal System Flexible Shielded TopHat Feedthrough Optical Stability Shield |
高质量数据不会因意外事故而发生
FormFactor经验丰富的设计团队一再提高电性测试的性能标准。不断的创新，与我们尊贵的客户一起精心的研究，开发了大量的高效率的技术套件：EMI / RFI和光屏蔽，电噪声滤波，信号保护，单点接地，噪声去耦，接触电阻降低，电容和电感管理等等。所有这些技术在宽泛的温度范围和全自动操作中都被证明是成功的，其中的挑战呈指数级增长。
对电性测试完整性的细致关注是FormFactor分析探针台系统的独特之处，使客户的成功与数据完整性相结合。
FormFactor引领行业数据完整性
经过成千上万的客户数十年的严格应用实践，这些工具得到了验证，使得FormFactor成为分析探针台系统的全球市场份额领导者。其他厂商可能只是声称测量性能，但是FormFactor可以证实它。请先了解这些技术FormFactor的全球演示中心。
FormFactor提供完整的生态系统，用于收集高质量的在片电性测试数据 - 带有探针台，载物台，探针和电缆的完整解决方案。
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