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Cascade Probe Systems

Cascade Probe Systems

我们提供全系列高性能工程探针台,用于晶圆级和板级测试,助力客户工艺提升,并降低使用成本。我们有完整的配套附件,例如显微镜、温控系统、软件和行业领先的探针。

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    Cascade Probes

    Test Probes

    我们提供了50余款分析探针产品,适用于晶圆,封装和板级特性描述。我们的RF、混合信号和DC系列探针可以满足所有探针测试需求。

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      Probe Cards

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

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        Metrology

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门生产强大的表面计量工具,例如开发生产和质量控制。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        学到更多 @ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

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            Probe Card Manufacturing Company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和具有丰富经验的工程师来帮助他们完成测试与测量挑战。

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                      • Infinity波导探针
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                      • Pyramid-MW
                      • Pyramid RF P系列
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                      • MicroProf® 200
                      • MicroProf® 100
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                  DC参数测试

                  DC-Parametric Test Probe Station

                  准确,可重复的IV / CV测量 - 当精确模型和数据变得关键时

                  最佳决策取决于最佳数据

                  对于几乎所有的器件类型和半导体技术, DC参数测量贯穿于半导体产品开发和生产的每个阶段。它在高级材料研究,工艺特性,器件特性和建模,设计调试,工艺监控和生产晶圆测试发挥着关键作用。

                  精确且可重复的直流参数测量(IV,CV,脉冲和高功率)可降低不确定性。可靠的结果可加速产品认证并生成更精确的模型和设计工具包,从而使设计师能够更快地向市场提供更具竞争力的产品。

                  我们以此为目标重新定义了分析测试系统 - 为在片测试提供全新的电气环境。通过消除可能破坏测试结果的环境因素,探针台对于测量仪器确实变得“隐形”。自从1991年第一台MicroChamber®探针台问世以来,FormFactor的Cascade探针台系统产品始终具有相同的使命 – 获得最佳数据以做出最佳决策,使客户获得成功。

                  测试完整性面临各方面的威胁

                  大量因素可能会破坏直流电性测试。由于外部环境的影响,电噪声可能出现在数据中 - 例如,来自蜂窝网络,无线电/电视塔和附近电子设备的电磁干扰和射频干扰,以及温度和振动等物理因素。

                  测试系统内部的因素也会影响结果 - 例如,设计不良的信号路径产生的漏电流,电阻或热电压偏移,材料能量存储以及来自于基本的探针台系统组件的电噪声,如电源,平台电机,温控系统和电脑。

                  如果管理不当,这些因素会导致数据偏移和整个样本集的统计分布增加,从而严重降低电性能。糟糕的数据是昂贵的 - 重新测试的时间,额外的建模周期,延迟的产品发布以及性能不佳的产品。

                  infographic-shielded-wafer-probe-systems
                  测量完整性创新和专利
                  1990s MicroChamber®and TopHat
                  AttoGuard®and PureLine™ Technology
                  Low-noise FemtoGuard™ Thermal Chuck
                  Low-noise triax cables
                  2000s Tesla 10kV FemtoGuard
                  HV/HC Kelvin Chuck System
                  MicroVac™ Wafer Contact
                  Thermal noise filtering
                  2010s Contact Intelligence™ Technology
                  High Position Accuracy
                  High Thermal Stability
                  Low-noise eVue IV digital microscope
                  Low-noise Thermal System
                  Flexible Shielded TopHat Feedthrough
                  Optical Stability Shield

                  高质量数据不会因意外事故而发生

                  FormFactor经验丰富的设计团队一再提高电性测试的性能标准。不断的创新,与我们尊贵的客户一起精心的研究,开发了大量的高效率的技术套件:EMI / RFI和光屏蔽,电噪声滤波,信号保护,单点接地,噪声去耦,接触电阻降低,电容和电感管理等等。所有这些技术在宽泛的温度范围和全自动操作中都被证明是成功的,其中的挑战呈指数级增长。

                  对电性测试完整性的细致关注是FormFactor分析探针台系统的独特之处,使客户的成功与数据完整性相结合。

                  FormFactor引领行业数据完整性

                  经过成千上万的客户数十年的严格应用实践,这些工具得到了验证,使得FormFactor成为分析探针台系统的全球市场份额领导者。其他厂商可能只是声称测量性能,但是FormFactor可以证实它。请先了解这些技术FormFactor的全球演示中心。

                  FormFactor提供完整的生态系统,用于收集高质量的在片电性测试数据 - 带有探针台,载物台,探针和电缆的完整解决方案。

                  DCP-HTR low-noise hightemperatureprobes

                  DCP-HTR低噪声高温探针

                  Low-noise FemtoGuard triaxial thermal chuck

                  低噪音FemtoGuard三轴高低温载物台

                  Takumi DC-parametric small pitch probe card

                  Takumi DC参数小间距探针卡

                  全新面世 - 全套解决方案

                  经验丰富的销售,应用和设计工程师随时准备与您一起应对最新的测试挑战。无论是在手动,常温探针台上测试单个样品,还是使用全自动多温度工具管理大批量工程测试,FormFactor都可以快速提供当今快节奏和苛刻的商业环境所需的完整性数据。

                  FormFactor提供广泛的,可配置的,可扩展的高性能的分析探针台和分析探针,满足您对精密电性测试的性能和价格要求,包括:

                  CM300xi - 300 mm Probe System

                  CM300xi - 300 mm探针台系统

                  SUMMIT200 Fully-automatic Shielded 200mm Probe System

                  SUMMIT200 - 200 mm探针台系统

                  EPS150TRIAX

                  EPS150TRIAX- 150 mm探针台系统

                  了解更多

                  产品:
                  CM300xi - 300 mm探针系统
                  SUMMIT200 - 200 mm探针系统
                  EPS150TRIAX- 150 mm探针系统
                  自主直流测量助手

                  文件(PDF):

                  Cascade探针台系统宣传册

                  CM300xi探针台规格表

                  MPS150探针台规格表

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