• Skip to primary navigation
  • Skip to main content

Cascade Probe Systems

Cascade Probe Systems

我们提供全系列高性能工程探针台,用于晶圆级和板级测试,助力客户工艺提升,并降低使用成本。我们有完整的配套附件,例如显微镜、温控系统、软件和行业领先的探针。

查看所有探针台

    Cascade Probes

    Test Probes

    我们提供了50余款分析探针产品,适用于晶圆,封装和板级特性描述。我们的RF、混合信号和DC系列探针可以满足所有探针测试需求。

    查看所有探针产品

      Probe Cards

      Probe Cards

      我们为存储器、RF、代工厂和逻辑器件提供了广泛的高性能探针卡产品系列,有助于降低总体生产成本、改善良率和实现“超越摩尔定律”的先进封装技术。

      查看所有探针卡

        Metrology

        Metrology Systems - FRT Tools

        FRT是FormFactor的一家公司,为各个部门生产强大的表面计量工具,例如开发生产和质量控制。由于这些多传感器设备的设计和构造,FRT工具可用于多种应用。

        学到更多 @ FRT

          专业测试

          Test Expertise

          FormFactor为客户提供从整个设计到生产具有连续性的支持,从表征,建模,可靠性和设计调试,验证和生产测试。

          了解更多

            想要了解更多关于我们的产品和服务?

            联系销售

            关于公司

            Probe Card Manufacturing Company

            我们的客户依靠我们成熟的产品和具有丰富经验的工程师来帮助他们完成测试与测量挑战。

            了解更多

              想要了解更多关于我们的产品和服务?

              联系销售

              联系我们

              Probe Sales & Service

              快速查找您所在地区的代表来回答您的销售和技术支持问题。

              了解更多

                想要了解更多关于我们的产品和服务?

                联系销售

                • 产品展示
                  • 探针台
                    • 模块化系统
                    • 150 MM探针台系统
                      • MPS150
                      • Genius教育套装
                    • 200 MM探针台系统
                      • Summit
                      • BlueRay
                      • PM8/EPS200
                      • 查看全部.
                    • 300 MM探针台系统
                      • CM300
                      • PM300
                      • 查看全部.
                    • 专用系统
                    • 自动化助手
                      • 自动化DC测量
                      • 自动化RF测量
                      • 自动化硅光测量
                    • 板级系统
                      • 电路板测试系统
                    • 功率系统
                      • Tesla
                    • 先进测量
                      • 真空/低温/压力条件下测量系统
                    • 软件
                      • Velox
                      • WinCal XE
                    • 附件
                      • eVue显微镜
                      • 探针座
                      • 载物台
                      • 防震台
                      • ShieldEnclosure™
                        •  
                          •  
                      •  
                        •  
                        •  
                    • 附加产品/方案
                      • 定制探针台系统
                      • 认证二手设备
                      • 以旧换新/回购
                      • 教育支持
                    •  
                    •  
                  • 工程探针
                    • ACP
                      • ACP探针 – 同轴
                      • ACP探针-低温/真空
                    • INFINITY
                      • Infinity探针 – 同轴
                      • InfinityXT™探针–同轴
                      • Infinity波导探针
                    • | Z | 探针
                      • | Z | 探针 – 同轴
                      • | Z | 探针®PCB
                      • | Z | 探针®功率
                    • T-WAVE
                      • T-Wave 探针
                    • RF多触点探针
                      • InfinityQuad
                      • ACP-Q探针
                      • Unity 探针
                      • Multi-|Z| 探针
                      • |Z| ProbeWedge
                      • QuadCard™
                    • DC参数测量探针
                      • DCP 100系列探针
                      • DCP-HTR系列探针
                    • DC多触点探针
                      • DC-Q探针
                      • Eye-Pass 探针
                      • WPH探针
                    • DC大功率探针
                      • 高电流探针
                      • 高压探针
                      • 超高功率探针(UHP)
                    • 特性测量
                      • 阻性匹配和终端
                      • 光学探针
                      • 低温探针
                    • 信号完整性
                      • FPC探针
                    • 校准工具
                      • 标准阻抗校准片
                      • CSR 校准片
                      • TRL 校准片
                      • WinCal XE
                    • 产品支持
                      • 探针支持
                      • 探针维修
                      • Wincal支持
                  • 探针卡
                    • DRAM存储
                      • PH Series
                      • SmartMatrix
                    • Flash闪存
                      • TouchMatrix
                    • Logic产品
                      • Altius
                      • Katana
                      • QiLin
                      • Cantilever
                      • Apollo
                      • TrueScale
                      • Vx-MP
                    • 参数测试
                      • Pyramid Parametric
                      • Takumi
                    • RF/毫米波/雷达
                      • Katana-RF
                      • Pyrana
                      • Pyramid Accel 测试夹具
                      • Pyramid-MW
                      • Pyramid RF P系列
                    • 较准工具
                      • Pyramid校准片
                  • 计量设备
                    • 计量系统
                      • MicroProf® AP
                      • MicroProf® FS
                      • MicroProf® FE
                      • MicroProf® MHU
                      • MicroProf® TL
                      • MicroProf® 300
                      • MicroProf® 200
                      • MicroProf® 100
                • 专业测试
                  • 客户协作
                    • 分享专长
                    • 从实验室到量产
                  • 应用
                    • 先进封装
                    • 5G产品
                    • 硅光测试
                    • 直流参数测试
                    • 功率半导体
                    • 低温设备
                  • 技术
                    • Contact Intelligence技术
                    • MEMS
                  • 刊物
                    • 技术白皮书
                    • 案例分析
                    • 测试见解演示
                  • MEASUREONE解决方案
                    • MeasureOne 项目概述
                    • 1 / f产品特性
                    • 电路特性分析
                    • 低温 / 磁性测试
                    • S 参数和 DC 参数
                    • 太赫兹(THz)测试
                • 关于公司
                  • 关于公司
                    • 加快盈利
                    • 公司简介
                    • 发展历程
                    • 经营团队
                    • 董事会
                    • 企业社会责任
                    • 全球网点
                  • 投资者
                    • 投资者关系
                  • 新闻中心
                    • 新闻发布室
                      • 活动公告
                      • 博客
                  • 工作机会
                    • 工作机会
                    • 招聘隐私政策
                  • 相关网站
                    • FRTmetrology.com
                    • High Precision Devices (HPD)
                • 联系我们
                  • 联系我们
                    • 全球网点
                    • 联系销售
                  • 附加产品/方案
                    • 教育机构优惠计划
                    • 认证二手设备
                    • 以旧换新/回购
                  • 产品支持
                    • 探针台系统支持
                    • 分析式探针支持
                    • 分析式探针维修
                    • Pyramid探针卡支持
                    • WinCal XE 支持
                  • 门户网站登录
                    • 销售门户
                    • 服务门户
                Asset 4

                  MEMS

                  MEMS:微机电系统

                  它解决了先进的2.5 / 3D封装技术所面临的挑战,汽车行业测试IC的温度要求高的问题,RF应用中对高带宽和高要求完整性的新兴需求,以及降低了一次接触测试数千个DRAM存储设备的(单位)成本。 FormFactor MEMS探针卡处于IC创新的最前沿。

                  Play Video

                  FormFactor MEMS播客(第1集): 什么是MEMS? 它如何用于晶圆探针测试?

                  FormFactor首席技术官Jarek Kister介绍了MEMS技术,以及FormFactor如何使用尖端的MEMS金属化来制造数百万个微小而坚固的电子弹簧以确保集成电路测试中超过100万次接触周期

                  Play Video

                  FormFactor MEMS播客(第2集): MEMS -测试挑战的解决方案

                  FormFactor首席技术官Jarek Kister讨论了MEMS在高平行度晶圆探测中的应用,以及FormFactor的MEMS技术如何解决具有挑战性的微处理器测试要求。

                  Play Video

                  FormFactor MEMS播客(第3集): - 混合MEMS技术

                  FormFactor公司首席技术官Jarek Kister解释了该公司混合MEMS技术如何使工程师们平衡接触力、高载流能力和超细间距,以优化先进的晶圆探测需求。

                  MEMS-技术论文

                  用于参数测试的2D MEMS探针和其他探针技术 | Saeki
                  最佳总体演示-SWTEST Asia 2019

                  FormFactor的Takao Saeki在他的论文中发布了Takumi CL,这是一种适用于低漏电和小尺寸pad的新型适用的MEMS探针卡。 Takumi CL具有新的2D MEMS探针设计,在产品的整个使用寿命中均具有一致的小针痕,并具有成本低廉和制造周期短的优点。


                  用于汽车IC测试的超高温探针卡解决方案 | Liao

                  在本文中,我们将讨论汽车IC增长的整体行业趋势和技术趋势,晶圆测试的挑战以及FromFactor的解决方案,以实现在-40C至160C的汽车微控制器器件上进行大于等于128 DUT的大规模并行测试。我们还将分享关于探针台之间的偏差和热变形,高数量探针针卡的AOT与POT差异以及关于低针压MEMS探针在晶圆pad上测试的大量工程特性结论,以实现零缺陷IC晶片测试要求。


                  混合MEMS技术2.0 | Kister,Leong,Bhardwaj

                  在2017年的SWTest研讨会上,高通公司和FormFactor推出了新型的混合MEMS探针技术,该技术适用于先进的测试应用。混合MEMS探针技术允许在单个探针头设计中使用多种探针设计,并且针对特定要求优化了每种探针设计,利用多层复合MEMS制作工艺的新型技术实现混合探针设计,该技术能够满足不同pad种类之间差别化的测试需求如细小间距和高载流能力的测试来实现最佳晶圆测试性能。


                  MEMS探针技术微间距铜柱凸块晶圆测试 | Liao

                  在本文中,FormFactor的Alan Liao关注了SoC芯片封装趋势以及其对CuPillar封装的推动。

                  演讲内容包括小间距CuPillar HVM探测的测试挑战,以及对用于小间距CuPillar HVM测试的MEMS探针技术的需求。

                  MEMS-新闻与新闻稿

                  SmartMatrix Close-up

                  SmartMatrix 3000XP可同时满足300 mm晶圆多达3000颗芯片实现一次接触完成测试

                  加利福尼亚州利弗莫尔–(全球通讯社– 2020年5月29日)–领先的半导体测试和测量设备供应商FormFactor,Inc.(纳斯达克股票代码:FORM)今天宣布发布SmartMatrix 3000XP探针卡,标示着DRAM晶圆测试达到了另一个高效率测试的里程碑。新型SmartMatrix 3000XP探针卡允许DRAM制造商利用FormFactor专有的测试信号资源增强技术(ATRE)和MEMS探针技术,在单个接触测试中测试3000或更多个裸片。新突破的技术可比以前的并行测试裸片的数量大约多1000个,并且可以将每个裸片的测试成本降低25%以上。 DRAM行业从以前的1X和1Y节点迁移到1Z和1α纳米工艺节点,继续保持了增加晶片上芯片数的趋势。结果,同时测试晶圆上每个芯片的全晶圆DRAM探针卡必须保持同步。…

                  MEMS-来自FormFactor博客

                  Introducing the Altius Vertical MEMS Probe Card for Advanced Packaging Technologies

                  适用于先进封装技术的Altius垂直MEMS探针卡的介绍

                  我们最近发布了新上市的Altius™垂直MEMS探针卡,旨在解决与2.5 / 3D先进封装技术相关的晶圆测试问题。先进封装技术的使用范围正在快速扩大,这得益于经典摩尔定律和晶体管体积的不断缩小。先进的封装可通过高密度互连实现多个不同芯片的异构集成,从而提高了产品性能并减小了芯片尺寸。根据Yole Développement的说法整个先进封装 市场规模将以8%的复合年增长率增长,到2024年将达到近440亿美元。…

                  从晶圆测试的角度来看,使小芯片成为主流技术的最大挑战是什么?

                  在异构集成系统中,由于单个小芯片而导致的复合成品率下降的影响,就晶圆复杂度和测试复杂性而言,为晶圆测试带来了新的性能要求。从测试的角度来看,使小芯片成为主流技术取决于确保以合理的测试成本获得“足够好的模具”。 晶圆级测试在小芯片制造过程中扮演着至关重要的角色。以HBM(高带宽内存)为例,它可以及早发现有缺陷的DRAM和逻辑芯片,以便可以在复杂而昂贵的堆叠阶段之前将其删除。堆叠后晶圆的进一步测试可确保完成的堆叠在切割成独立组件之前具有完整的功能。理想情况下,每个DRAM芯片在堆叠之前都应进行已知良好芯片(KGD)测试,以独立验证其性能。但这在经济上通常是不可行的。在某些时候,测试成本超过了系统完成后增加的价值。 因此,需要一种平衡测试成本和未做芯片不良率检测的测试策略,以将异构集成引入大批量生产。得益于MEMS探针卡技术的创新,FormFactor的产品可以帮助客户实现全流程的KGD测试(例如支持45μm栅格阵列间距微凸点测试的Altius™探针卡,用于高速HBM和Interposer插入连接器的良品率验证),并且可以接受有限的测试成本(例如SmartMatrix™探针卡,通过同时测试300mm晶圆上的数千个芯片,大大降低了每个芯片的测试成本)。 最终,我们在小型芯片制造过程的每个阶段获得有关产品性能和成品率的更多信息,从而帮助客户降低总体制造成本。 艾米梁…

                  TrueScale Matrix

                  为当今的汽车市场需求提供零缺陷IC晶圆测试

                  汽车半导体市场正在快速增长,预计到2016年至2021年,复合年增长率将在3%至14%之间,到2021年将达到430亿美元。在当今更现代化的汽车中,半导体芯片的数量正在变多,部分原因是更多关键的安全系统,更高的燃油效率技术,导航和通信技术的发展,舒适性和娱乐功能以及自主和辅助驾驶技术的进步。因此,我们看到雷达,激光雷达和图像传感器,RF /mm Wave芯片以及微控制器数量的飞速增长,以帮助支持这些新的车辆开发。 挑战在于,IC制造商需要在自然挑战的环境中采用零缺陷需求协议。毕竟,车辆的设计使用寿命为10年或更长时间(以您的手机为例),并且要承受严酷的汽车使用环境要求。此外,晶圆测试供应商需要在不增加测试成本的情况下扩大测试范围。在今年早些时候的芯片规模评估文章“零缺陷世界中的汽车IC生产晶圆测试”中,我司的Amy Leong回应了这一挑战。…

                  HBM-DRAM

                  处于先进封装测试的最前沿

                  在先进封装领域,晶圆测试变得比以往任何时候都更加重要。我们正在为当今最棘手的问题提供解决方案。 鉴于摩尔定律已接近尾声,我们的行业已将其创造力应用于先进封装,以继续实现性能和成本目标。在“数据时代”中,先进的封装技术为计算能力和内存带宽方面的突破性发展提供了支持,以支持重要计划,例如人工智能,汽车,5G /移动,高性能计算和其他高端应用。英特尔,台积电和三星等公司正在引领新的先进封装技术之路。 我们将先进封装定义为2.5D /…

                  Apollo Probe Card

                  打破对FOWLP上铜Cu pad进行晶圆测试的神话

                  扇出型晶圆级封装(FOWLP)是当今发展最快的先进封装领域之一。当iPhone 7 A10处理器为其高端移动应用处理器采用扇出技术时,它的增长被点燃。据Yole Research称,预计到2022年,FOWLP规模将从2016年的3.2亿美元增长到25亿美元。 FOWLP引入了晶圆级测试要求的重大转变。…

                  Pyrana - Probe Card

                  Katana-RF和Pyrana探针卡的4个主要优点

                  Pyrana和Katana-RF探针卡为高达10 GHz的RF产品以及对电感敏感的应用提供出色的信号完整性,低接地电感和单独兼容的触点。 Pyrana探针卡由Pyramid探Pyramid探针卡和Katana-RF探针卡组合而成。 Katana-RF和Pyrana探针卡具有长使用寿命,易于维修和精确的可重复测量,因此具有成本效益。 Katana-RF探针卡可以高度定制,而Pyrana探针卡提供通用的,可重复使用的PCB。…

                  • 关于公司
                  • 公司简介
                  • 投资者关系
                  • 新闻
                  • 发展历程
                  • 经营团队
                  • 董事会
                  • 企业社会责任
                  • 公司日志
                  • 工作机会
                  • 工作机会
                  • 招聘隐私政策
                  • 联系我们
                  • 全球网点
                  • 产品展示
                  • 探针台
                  • 工程探针
                  • 探针卡

                  媒体

                  LinkedIn 微信 视频
                  • 隐私政策
                  • 网站使用条款
                  • 沪ICP备20013831号
                  • 沪公网安备 31011502016329号

                  ©2021, FormFactor. 版权所有.

                  • 产品展示
                    • 探针台
                      • 模块化系统
                      • 150 MM探针台系统
                        • MPS150
                        • Genius教育套装
                        • Back
                      • 200 MM探针台系统
                        • Summit
                        • BlueRay
                        • PM8/EPS200
                        • 查看全部.
                        • Back
                      • 300 MM探针台系统
                        • CM300
                        • PM300
                        • 查看全部.
                        • Back
                      • 专用系统
                      • 自动化助手
                        • 自动化DC测量
                        • 自动化RF测量
                        • 自动化硅光测量
                        • Back
                      • 板级系统
                        • 电路板测试系统
                        • Back
                      • 功率系统
                        • Tesla
                        • Back
                      • 先进测量
                        • 真空/低温/压力条件下测量系统
                        • Back
                      • 软件
                        • Velox
                        • WinCal XE
                        • Back
                      • 附件
                        • eVue显微镜
                        • 探针座
                        • 载物台
                        • 防震台
                        • ShieldEnclosure™
                          •  
                            •  
                            • Back
                          • Back
                        •  
                          •  
                          •  
                          • Back
                        • Back
                      • 附加产品/方案
                        • 定制探针台系统
                        • 认证二手设备
                        • 以旧换新/回购
                        • 教育支持
                        • Back
                      •  
                      •  
                      • Back
                    • 工程探针
                      • ACP
                        • ACP探针 – 同轴
                        • ACP探针-低温/真空
                        • Back
                      • INFINITY
                        • Infinity探针 – 同轴
                        • InfinityXT™探针–同轴
                        • Infinity波导探针
                        • Back
                      • | Z | 探针
                        • | Z | 探针 – 同轴
                        • | Z | 探针®PCB
                        • | Z | 探针®功率
                        • Back
                      • T-WAVE
                        • T-Wave 探针
                        • Back
                      • RF多触点探针
                        • InfinityQuad
                        • ACP-Q探针
                        • Unity 探针
                        • Multi-|Z| 探针
                        • |Z| ProbeWedge
                        • QuadCard™
                        • Back
                      • DC参数测量探针
                        • DCP 100系列探针
                        • DCP-HTR系列探针
                        • Back
                      • DC多触点探针
                        • DC-Q探针
                        • Eye-Pass 探针
                        • WPH探针
                        • Back
                      • DC大功率探针
                        • 高电流探针
                        • 高压探针
                        • 超高功率探针(UHP)
                        • Back
                      • 特性测量
                        • 阻性匹配和终端
                        • 光学探针
                        • 低温探针
                        • Back
                      • 信号完整性
                        • FPC探针
                        • Back
                      • 校准工具
                        • 标准阻抗校准片
                        • CSR 校准片
                        • TRL 校准片
                        • WinCal XE
                        • Back
                      • 产品支持
                        • 探针支持
                        • 探针维修
                        • Wincal支持
                        • Back
                      • Back
                    • 探针卡
                      • DRAM存储
                        • PH Series
                        • SmartMatrix
                        • Back
                      • Flash闪存
                        • TouchMatrix
                        • Back
                      • Logic产品
                        • Altius
                        • Katana
                        • QiLin
                        • Cantilever
                        • Apollo
                        • TrueScale
                        • Vx-MP
                        • Back
                      • 参数测试
                        • Pyramid Parametric
                        • Takumi
                        • Back
                      • RF/毫米波/雷达
                        • Katana-RF
                        • Pyrana
                        • Pyramid Accel 测试夹具
                        • Pyramid-MW
                        • Pyramid RF P系列
                        • Back
                      • 较准工具
                        • Pyramid校准片
                        • Back
                      • Back
                    • 计量设备
                      • 计量系统
                        • MicroProf® AP
                        • MicroProf® FS
                        • MicroProf® FE
                        • MicroProf® MHU
                        • MicroProf® TL
                        • MicroProf® 300
                        • MicroProf® 200
                        • MicroProf® 100
                        • Back
                      • Back
                    • Back
                  • 专业测试
                    • 客户协作
                      • 分享专长
                      • 从实验室到量产
                      • Back
                    • 应用
                      • 先进封装
                      • 5G产品
                      • 硅光测试
                      • 直流参数测试
                      • 功率半导体
                      • 低温设备
                      • Back
                    • 技术
                      • Contact Intelligence技术
                      • MEMS
                      • Back
                    • 刊物
                      • 技术白皮书
                      • 案例分析
                      • 测试见解演示
                      • Back
                    • MEASUREONE解决方案
                      • MeasureOne 项目概述
                      • 1 / f产品特性
                      • 电路特性分析
                      • 低温 / 磁性测试
                      • S 参数和 DC 参数
                      • 太赫兹(THz)测试
                      • Back
                    • Back
                  • 关于公司
                    • 关于公司
                      • 加快盈利
                      • 公司简介
                      • 发展历程
                      • 经营团队
                      • 董事会
                      • 企业社会责任
                      • 全球网点
                      • Back
                    • 投资者
                      • 投资者关系
                      • Back
                    • 新闻中心
                      • 新闻发布室
                        • 活动公告
                        • 博客
                        • Back
                      • Back
                    • 工作机会
                      • 工作机会
                      • 招聘隐私政策
                      • Back
                    • 相关网站
                      • FRTmetrology.com
                      • High Precision Devices (HPD)
                      • Back
                    • Back
                  • 联系我们
                    • 联系我们
                      • 全球网点
                      • 联系销售
                      • Back
                    • 附加产品/方案
                      • 教育机构优惠计划
                      • 认证二手设备
                      • 以旧换新/回购
                      • Back
                    • 产品支持
                      • 探针台系统支持
                      • 分析式探针支持
                      • 分析式探针维修
                      • Pyramid探针卡支持
                      • WinCal XE 支持
                      • Back
                    • 门户网站登录
                      • 销售门户
                      • 服务门户
                      • Back
                    • Back

                  [ Placeholder content for popup link ] WordPress Download Manager - Best Download Management Plugin

                  我们已经更新了我们的隐私政策。

                  我们的政策描述了本网站上Cookie和类似技术的使用。它还描述了我们如何使用收集到的任何个人数据。单击“同意”(如下)以同意此使用。要了解更多信息,请阅读 FormFactor隐私政策。