FormFactor的“测试见解”演讲系列
“测试见解”是一系列与半导体晶圆测试和测量相关的简短演讲。 FormFacto相关领域专家讨论了关于新兴应用的新的表征特性以及如何来验证所面临的的挑战。演讲涉及从工程实验室到生产工厂的流程中所涉及到的新设备、技术和材料以及开发新的验证方案，以满足其特定的测试和测量要求。
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利用硅光子技术解决数据中心能源危机曹炳新博士
每天都有海量的数据产生并传入各公司的数据中心，数据产生的速度已经远远超过了目前的数据检索处理能力。同时，消费者正在交流，浏览，购买，共享和搜索，从而创建了自己的大量数据线索，并在数据中心产生了惊人的能源需求。 FormFactor的Choon Beng Sia博士介绍了硅光子（SiPh）设备的应用，这些新设备如何帮助降低数据中心的能耗，为何需要准确可靠的晶圆级光子测试以及在应对如何测试硅光子器件的挑战中FormFactor所起到的重要作用。 （时间：13:25）
5G生产测试注意事项|丹尼尔·博克博士
将5G推向市场需要一系列支持设备，以确保最终产品达到预期。它将需要在芯片技术和制造工艺方面取得显著的性能进步，同时将价格/性能保持在成本上可接受的水平。在本演示中，FormFactor的Daniel Bock博士描述了与5G产品相关的一些规范以及它们对晶圆测试提出的新要求。（时间9:28）
130 GHz的宽带S参数测量安东尼·洛德
FormFactor射频市场总监Anthony Lord回顾了在宽频带（尤其是毫米波mmw）上进行极高频率测量的挑战。讨论了高精度和可靠性的在产品建模和电路表征特性方面的需求，以及在温度范围（-40至最高+175℃）下进行这些测量的挑战。 （时间10:00）